AFM

원자력 현미경(AFM)은 고분자, 세라믹, 복합재료부터 미세한 생물학적 시료에 이르기까지 거의 모든 표면 유형을 영상화할 수 있는 강력하고 범용적인 기술입니다. 그러나 현대의 연구 목표는 단순한 지형 측정을 넘어섭니다. 연구자들은 이제 AFM을 사용하여 접착력, 자기장, 기계적 특성 등 특정 물리적 힘을 나노미터 단위의 정밀도로 측정하고 위치를 파악하고 있습니다.
이 측정은 직경 약 10~20nm의 날카로운 탐침이 시료와 상호작용하는 원리에 기반합니다. 이러한 탐침-표면 상호작용의 물리학은 본질적으로 비선형적입니다. 이러한 비선형성은 신호를 복잡하게 만들지만, 동시에 표면의 풍부한 물성 정보를 담고 있습니다. 과제는 이러한 복잡한 신호를 충분히 포착하여 해당 물성을 정확하게 해독하는 데 있으며, 이를 위해서는 기본 주파수를 훨씬 넘어서는 캔틸레버의 응답을 분석해야 합니다.
일반적인 제어기는 이러한 풍부한 데이터를 놓치는 경우가 많습니다. 비선형 응답을 최대한 활용하기 위해 당사는 다중 주파수 AFM 키트와 MLA-3 다중 주파수 록인 증폭기를 개발했습니다. 이 플랫폼은 캔틸레버 운동의 최대 32개 고조파를 동시에 측정하여 상호작용에 대한 완전한 그림을 제공합니다.
이러한 고차 고조파를 포착함으로써, 당사의 시스템은 표면 특성을 훨씬 더 빠르게, 그리고 훨씬 더 뛰어난 감도로 추출할 수 있게 해줍니다. 아래의 애플리케이션 노트에서 이 다중 고조파 접근 방식이 어떻게 새로운 연구를 주도하고 있는지 확인해 보십시오.